Utrustning för upptäckt av kontaktdefekter

Tillverkad av ledande experter i Kina, Fuwei Connector Defect Detection Equipment använder den senaste tekniken för att noggrant upptäcka och identifiera defekter, vilket garanterar de högsta nivåerna av produktkvalitet och prestanda. Som både tillverkare och leverantör är vi fast beslutna att leverera överlägsna produkter som uppfyller rigorösa industristandarder. Vår konkurrenskraftiga prissättning säkerställer tillgänglighet utan att kompromissa med kvaliteten, vilket gör denna utrustning till en ovärderlig tillgång för företag som söker precision och effektivitet i tillverkningsprocesser för kopplingar. Med Fuwei Connector Defect Detection Equipment kan kunder förvänta sig oöverträffad tillförlitlighet, noggrannhet och värde, vilket ger dem möjlighet att bibehålla exceptionell produktkvalitet samtidigt som produktionseffektiviteten optimeras.

Detektionsobjekt

Stiftavstånd, GAP-värde, positionsnoggrannhet, TIP-exponering, knästående PIN-kod, trasig PIN-kod, deformation, repor, lim, främmande föremål, repor, spill, etc.

Svårighet

Det är svårt att presentera defekter i ljusfotografering, med ett brett utbud av defekttyper, varierande former och storlekar och varierande förekomstområden, vilket resulterar i hög komplexitet

Resultat

Noggrann detektering av olika kontaktdefekter med en missad detekteringsfrekvens på mindre än 0,1 %

Detekterbara produkter

Optisk bildbehandling

Som svar på de olika typerna, formerna och storlekarna av anslutningsdefekter har vi utvecklat vårt eget optiska bildsystem för att lösa bildproblem för olika typer av kontakter.

Introduktion till bildegenskaper

Ljuskällakombination, multipositionsavbildning

Kombinera olika ljuskällor för att få bilder under olika ljuskällor, sammanfoga bilder genom algoritmer för att minska avbildning av döda fläckar

En skanning, flersidig utgång

Stöd tidsdelningsexponering för bildtagning, mata ut flera kompletta bilder som ska inspekteras i en skanning
En enda skanning kan erhålla bilder belysta från flera vinklar, såsom ljust fält, mörkt fält, bakgrundsbelysning, etc. Flervinkelbelysning förbättrar avsevärt defektdetekteringshastigheten